2004年第3期

2006年01月25 00:00:00 来源:中国空调制冷网
芯片集成度的提高,要受到因电子元器件发热而引起的热障所限制。近年来,随着微/纳电子技术的飞速发展,更使得对高性能冷却技术的需求提到了前所未有的层面。对此的全力追求,促成了一系列激动人心的新型冷却方法的建立。在讨论电子元器件产热机制的基础上,对新近涌现出的若干典型芯片冷却技术及其应用情况进行了综合分析,讨论了其优缺点及有待解决的关键问题,并对这一领域的发展前景作了一定展望。
上一篇:2004年第2期
下一篇:2005年第1期


手机版查看本网页

微信公众号

个人微信

手机:13007606916
13223029089
电话:0371-60957609
联系人:赵经理
QQ:9797618


友情链接

地址:中国·郑州金水区 热线:13007606916,13223029089/ 0371-60957609 E-Mail:mqlbh2016@126.com, QQ:9797618
在线客服:QQ:9797618
Sitemap 网站地图